2015年6月18日、人民日報（電子版）は米AP通信の報道を引用し、米国の大学などに進学する際に必要な試験において、不正を行ったとして起訴された中国人学生15人について伝えた。

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先月28日、米当局はSAT（大学進学適性試験）やGRE（米国に進学する際に必要な試験）の試験において、替え玉を雇った依頼者、試験に参加した替え玉、さらにはパスポートを偽造した容疑で中国人15人を起訴した。

米当局によると、15人のうち6人が6000ドル（約74万円）を支払い、替え玉を雇った。このほか5人は替え玉として試験に参加し、残り4人がパスポート偽造に関与した罪に問われている。

中国人学生の不正行為について米政府関係者は、「パスポートを偽造し替え玉として試験に参加することは、不正な手段による成績で留学生ビザを獲得したということになる。これは移民やビザの関連法に違反している疑いもあり、試験での不正を合わせれば重刑に問われる可能性もある。そのため、複数の罪が確定すれば一部の留学生は最大で20年の懲役と25万ドル（約3000万円）の罰金を言い渡されるだろう」と述べている。

報道によると今月17日、米当局の訴えに対して、15人のうちの8人が容疑を否認している。（翻訳・編集/内山）